專門研發的一款上照式膜厚測試儀。儀器外觀簡潔大方，通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析。

性能優勢

配置——采用高分辨率SDD探測器;分辨率高達140eV
上照式設計——實現微小不規則表面樣品如弧形，拱上照式設計形，凹槽，螺紋等異形的快、準、穩高效檢測
高精度自動化的X軸Y軸Z軸的聯動裝置實現對樣品的精準對焦快速檢測
采用高度自動定位激光，可快速精準定位測試高度，以滿足不同尺寸的鍍層測試
多種準直孔可供選擇——準直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm
定位精準——樣品可快速精準定位
操作簡易——全自動智能集成設計，讓檢測輕松完成